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Nueva versión del software Test Universe 2.30

Nos complace anunciar la disponibilidad del software Test Universe 2.30 que contiene muchas y útiles funciones y mejoras

Las mejoras más importantes son las siguientes:

  • IEC 61850: hasta 360 puntos de datos de entrada GOOSE adicionales y 360 puntos de datos de salida GOOSE adicionales como entradas/salidas virtuales
  • NetSim: muchas funciones mejoradas (Vista de impedancia, simulación de múltiples TC, importación de CT Analyzer mejorada, Vincular a XRIO (LinkToXRIO), valores primarios/secundarios, nuevos casos de prueba, etc.)
  • PermaSync: las salidas analógicas y de valores muestreados permanecen continuamente sincronizadas entre sí y con una base de tiempo externa (por ejemplo, para pruebas de PMU y pruebas de extremo a extremo de larga duración)
  • Posibilidad de utilizar el convertidor CMUSB-P de USB a paralelo
  • En los módulos Ramping y Pulse Ramping, rampa y rampa de pulsos de impedancias (incluida la Vista de impedancia), bucles de falta, componentes simétricas y potencia, con diagrama vectorial
  • Exportación COMTRADE mejorada desde la Oscilografía

… y muchas más.

Si estás interesado en más información por favor visitar nuestra área del cliente *, contactar su distribuidor/representante local o la oficina de OMICRON más cercana.

Si quiere saber más, visita nuestro Webinar "TU 2.30 - What's New & Applications": Para obtener más información visite nuestra página web en alemán o inglés.

* Requiere la registración para el área de cliente de OMICRON. Se dará acceso sólo a clientes de OMICRON.

Eventos

TechAdvantage 
Estados Unidos
06 mar - 09 mar 2012

wire 2012
Alemania
26 mar - 30 mar 2012

Resumen de eventos