OMICRON

Módulo Sampled Values Configuration

Módulo de configuración para publicar flujos de Sampled Values

Módulo Sampled Values Configuration

Módulo Sampled Values Configuration

El módulo Sampled Values Configuration permite configurar la unidad de prueba CMC para la generación de Sampled Values IEC 61850. Dependiendo del modelo de unidad de prueba, pueden generarse simultáneamente hasta tres flujos de Sampled Values. Esta característica se adapta de forma óptima a las aplicaciones de pruebas que requieren más de un flujo de Sampled Values, como es el caso de la comprobación de sincronización o la protección diferencial.

Las unidades de prueba CMC con funcionalidad IEC 61850 generan Sampled Values de acuerdo con la directiva de implementación del UCA International Users Group. Los Sampled Values generados corresponden a las tensiones y corrientes analógicas generadas por la unidad de prueba. Dado que todavía están disponibles los valores analógicos, se admiten también aplicaciones híbridas.

Características principales
  • Compatible con todos los módulos relacionados con la protección del software Test Universe
  • Pueden generarse simultáneamente hasta tres flujos de Sampled Values
  • Los Sampled Values cumplen la directiva de implementación del UCA International Users Group
  • Admite aplicaciones híbridas
  • Importación de parámetros de archivos de configuración SCL
Aplicaciones

Las funciones de Sampled Values pueden utilizarse con los dispositivos CMC 850, CMC 356, CMC 353, CMC 256plus y CMC 256-6 con la opción NET-1.

IEC 61850 Package

Como las distintas tareas de prueba IEC 61850 normalmente se realizan juntas, OMICRON ha unido sus herramientas más utilizadas en un paquete. Consta de IEDScout y los módulos de configuración CMC para GOOSE y Sampled Values.